HAST非飽和加速壽命試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測試們會被反壓保護(hù)。

圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。

臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長packing壽命。

圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。

hast非飽和加速試驗(yàn)箱適用測試標(biāo)準(zhǔn)：

JESD22-A102 無偏壓高壓蒸煮試驗(yàn) 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗(yàn)

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗(yàn)-濕熱試驗(yàn) 太陽能光伏組件 減少試驗(yàn)時(shí)間

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術(shù)，主要應(yīng)用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過這種測試方法，可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命，從而避免在產(chǎn)品投放市場后出現(xiàn)潛在問題。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱的工作原理是將待測芯片置于高溫高濕的環(huán)境中，以一定的時(shí)間間隔進(jìn)行加熱和加濕，模擬長時(shí)間使用后的可能問題。通過這種模擬環(huán)境的測試方法，可以快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。

在具體操作中，HAST濕熱壽命老化箱的時(shí)間范圍可調(diào)，可以在0小時(shí)至999小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測試。這種靈活性使得測試人員可以根據(jù)具體需求和產(chǎn)品特性設(shè)置合適的測試時(shí)間，從而更好地評估產(chǎn)品的性能和可靠性。

HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的濕度分布均度控制在±3%RH，確保每個(gè)測試樣本都能得到一致的測試條件。這種均度控制對于準(zhǔn)確評估產(chǎn)品的性能和可靠性至關(guān)重要。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，為提升產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性提供了有效的手段。通過模擬環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，可以在短時(shí)間內(nèi)快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而及早采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。此外，HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的靈活性和均度控制使得測試人員可以根據(jù)具體需求對產(chǎn)品進(jìn)行全面評估，確保產(chǎn)品的性能和可靠性達(dá)到預(yù)期水平。

需要注意的是，雖然HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱可以模擬環(huán)境，但并不能代表實(shí)際使用的所有情況。因此，在產(chǎn)品開發(fā)過程中，除了使用HAST濕熱壽命老化箱進(jìn)行加速老化測試外，還應(yīng)結(jié)合實(shí)際情況和其他測試方法，對產(chǎn)品進(jìn)行多角度、的評估，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性達(dá)到水平。

在未來的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中，質(zhì)量和可靠性將成為越來越重要的考量因素。而HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱作為一種主流的加速老化測試技術(shù)，將在提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性方面發(fā)揮更加重要的作用。