坪山冷熱沖擊試驗(yàn)箱供應(yīng)商：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車(chē)電器、材料等產(chǎn)品，測(cè)試在瞬間經(jīng)低溫急速變化而對(duì)產(chǎn)品是否造成不良的影響，以最短時(shí)間內(nèi)實(shí)驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，以便對(duì)測(cè)試產(chǎn)品試驗(yàn)行為作出評(píng)價(jià)，適用于學(xué)校、工廠、軍工、研位 等單位。

坪山冷熱沖擊試驗(yàn)箱供應(yīng)商

1、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行低溫試驗(yàn)時(shí)，在0度以下的環(huán)境下，打開(kāi)箱門(mén)時(shí)，箱體內(nèi)部的冷氣會(huì)揮發(fā)結(jié)霜，溫度越低，情況越嚴(yán)重，特殊情況下打開(kāi)箱門(mén)時(shí)間也應(yīng)該減少，及時(shí)的關(guān)上箱體門(mén)。

2、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行試驗(yàn)前要檢測(cè)箱體是否關(guān)好關(guān)緊，防止氣體外泄，影響試驗(yàn)結(jié)果。

3、在進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí)，要注意箱體內(nèi)部或者周?chē)荒芊胖靡兹家妆ǖ倪€有含腐蝕性的物質(zhì)，有可能會(huì)造成設(shè)備的損壞。

4、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在試驗(yàn)時(shí)不要頻繁打開(kāi)和關(guān)閉箱門(mén)，否則會(huì)影響設(shè)備的使用壽命。

*設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

在眾多環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中，高低溫沖擊試驗(yàn)箱，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，快速溫變?cè)囼?yàn)箱，紫外線老化試驗(yàn)箱都占有重要地位，其使用范圍遍及各行各業(yè)。它們既能做高溫試驗(yàn)也能做低溫試驗(yàn)，還能從高溫向低溫或是從低溫向高溫轉(zhuǎn)換，但是其轉(zhuǎn)換時(shí)間太長(zhǎng)、速率太慢，不能滿(mǎn)足樣品需要在溫度驟變情況下的性能測(cè)試。由此便誕生出了高低溫沖擊試驗(yàn)箱，能迅速使試驗(yàn)樣品體驗(yàn)溫變，以檢測(cè)其受溫度沖擊的承受能力及觀察其性能改變。